Številka izdelka proizvajalca:
SN74ABT18652PM
Product Overview
Proizvajalec:
Texas Instruments
DiGi Electronics Številka dela:
SN74ABT18652PM-DG
Opis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Podroben opis:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Zaloga:
1545477
Zahtevaj ponudbo
Količina
Minimun 1
Minimun 1
(*) je obvezno
Naši odgovor boste prejeli v 24 urah
Naši odgovor boste prejeli v 24 urah
POŠTITE
SN74ABT18652PM Tehnične specifikacije
Kategorija
Logika, Specializirana logika
Proizvajalec
Texas Instruments
Pakiranje
Tray
Serije
74ABT
Stanje izdelka
Active
Vrsta logike
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napajalna napetost
4.5V ~ 5.5V
Število bitov
18
Delovna temperatura
-40°C ~ 85°C
Vrsta montaže
Surface Mount
Paket / Primer
64-LQFP
Paket naprav dobavitelja
64-LQFP (10x10)
Osnovna številka izdelka
74ABT18652
Tehnični list in dokumenti
Podatkovni listi
Dodatne informacije
Druga imena
-SN74ABT18652PMG4-NDR
296-3944
TEXTISSN74ABT18652PM
296-3944-NDR
-SN74ABT18652PM-NDR
-296-3944-DG
-296-3944-NDR
-SN74ABT18652PMG4
2156-SN74ABT18652PM
-296-3944
SN74ABT18652PMG4
SN74ABT18652PMG4-DG
Standardni paket
160
Okoljska in izvozna klasifikacija
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Stopnja občutljivosti na vlago (MSL)
3 (168 Hours)
Stanje uredbe REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikat
Sorodni izdelki
SN74GTLP2034DGGR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 48-TSSOP
SN74FB2041ARCG3
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP
SN74BCT8374ADWR
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
