Številka izdelka proizvajalca:
SN74ABTH182646APM
Product Overview
Proizvajalec:
Texas Instruments
DiGi Electronics Številka dela:
SN74ABTH182646APM-DG
Opis:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Podroben opis:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Zaloga:
1696399
Zahtevaj ponudbo
Količina
Minimun 1
Minimun 1
(*) je obvezno
Naši odgovor boste prejeli v 24 urah
Naši odgovor boste prejeli v 24 urah
POŠTITE
SN74ABTH182646APM Tehnične specifikacije
Kategorija
Logika, Specializirana logika
Proizvajalec
Texas Instruments
Pakiranje
Tray
Serije
74ABTH
Stanje izdelka
Active
Vrsta logike
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napajalna napetost
4.5V ~ 5.5V
Število bitov
18
Delovna temperatura
-40°C ~ 85°C
Vrsta montaže
Surface Mount
Paket / Primer
64-LQFP
Paket naprav dobavitelja
64-LQFP (10x10)
Osnovna številka izdelka
74ABTH182646
Tehnični list in dokumenti
Podatkovni listi
Dodatne informacije
Druga imena
-296-4133-DG
-74ABTH182646APMG4-NDR
74ABTH182646APMG4-DG
74ABTH182646APMG4
2156-SN74ABTH182646APM
-296-4133
TEXTISSN74ABTH182646APM
296-4133-NDR
-SN74ABTH182646APM-NDR
-74ABTH182646APMG4
296-4133
Standardni paket
160
Okoljska in izvozna klasifikacija
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Stopnja občutljivosti na vlago (MSL)
3 (168 Hours)
Stanje uredbe REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI Certifikat
Sorodni izdelki
SN74ABT8543DL
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SY100EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
